容性設(shè)備介質(zhì)損耗帶電測(cè)試系統(tǒng)
產(chǎn)品名稱:
容性設(shè)備介質(zhì)損耗帶電測(cè)試系統(tǒng)
產(chǎn)品型號(hào):
WBRX-2009
產(chǎn)品文檔:
無相關(guān)文檔
簡(jiǎn)單介紹
容性設(shè)備介質(zhì)損耗帶電測(cè)試系統(tǒng)是采用分散帶電測(cè)量方式測(cè)量設(shè)備的介質(zhì)損耗和電容值，相對(duì)于停電預(yù)防性試驗(yàn)可以大大節(jié)省停電時(shí)間，更能反映設(shè)備帶電情況下的絕緣狀況，可以保障電網(wǎng)**、可靠和高效運(yùn)行。
本產(chǎn)品根據(jù)我公司多年累積的經(jīng)驗(yàn)，且一次次的改進(jìn)所生產(chǎn)的新品，獲得市場(chǎng)上的一致認(rèn)可。如需咨詢關(guān)于此產(chǎn)品的相關(guān)信息，請(qǐng)電話我公司，我們將會(huì)為您做出相應(yīng)的解答，期待您的來電。
容性設(shè)備介質(zhì)損耗帶電測(cè)試系統(tǒng) 的詳細(xì)介紹
一、產(chǎn)品描述
1、在變電站高壓設(shè)備中，容性設(shè)備(如套管、CT、CVT、耦合電容器等)的數(shù)量占40%～50%，其自身的絕緣性能是關(guān)系到設(shè)備現(xiàn)場(chǎng)**運(yùn)行的重要技術(shù)指標(biāo)。容性設(shè)備的絕緣劣化是一個(gè)漸變的過程，但如不及時(shí)發(fā)現(xiàn)并檢修，就可能導(dǎo)致套管發(fā)生故障進(jìn)而引發(fā)突發(fā)性故障，造成巨大的直接、間接經(jīng)濟(jì)損失。
2、容性設(shè)備介質(zhì)損耗帶電測(cè)試系統(tǒng)是采用分散帶電測(cè)量方式測(cè)量設(shè)備的介質(zhì)損耗和電容值，相對(duì)于停電預(yù)防性試驗(yàn)可以大大節(jié)省停電時(shí)間，更能反映設(shè)備帶電情況下的絕緣狀況，可以保障電網(wǎng)**、可靠和高效運(yùn)行。
本產(chǎn)品根據(jù)我公司多年累積的經(jīng)驗(yàn)，且一次次的改進(jìn)所生產(chǎn)的新品，獲得市場(chǎng)上的一致認(rèn)可。如需咨詢關(guān)于此產(chǎn)品的相關(guān)信息，請(qǐng)電話我公司，我們將會(huì)為您做出相應(yīng)的解答，期待您的來電。
二、技術(shù)參數(shù)
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測(cè)量范圍及精度
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電流測(cè)量
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測(cè)量范圍
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Ix=100μA～650mA In=100μA～650mA
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測(cè)量精度
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±（1%+1字）
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電壓測(cè)量
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測(cè)量范圍
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Vn=3V～300V
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測(cè)量精度
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±（1%U+1字）
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介質(zhì)損耗
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測(cè)量范圍
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Tanδ=－200%～200%
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測(cè)量精度
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±（1%D+1字）
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電容比值
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測(cè)量范圍
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Cx:Cn=1:1000～1000:1
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測(cè)量精度
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±（1%C+1字）
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電容量
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測(cè)量范圍
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Cx=10pF～0.3μF
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測(cè)量精度
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±（1%C+2pF）
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